상세 설명
모든 연마된 실리콘 웨이퍼는 총 두께 변동(TTV) 측정, 휨 및 굽힘 테스트, 레이저 스캐닝 시스템을 이용한 표면 입자 계수, 저항률 매핑, 선택적 에칭을 통한 결정 결함 분석 등 포괄적인 품질 검사를 거쳐 웨이퍼 전체 표면에서 일관된 성능을 보장합니다. 프라임, 테스트, 더미 품질 등급으로 제공되는 당사의 연마 실리콘 웨이퍼는 대량 IC 생산 라인부터 대학 연구 및 개발 프로토타입 프로젝트까지 다양한 요구를 충족합니다. 신뢰받는 연마 실리콘 웨이퍼 공급업체로서 제조 및 포장 전 과정에서 엄격한 클린룸 기준을 유지하며, 반도체 제조를 위한 SEMI 국제 표준을 충족하거나 초과하는 기판을 제공합니다.
| Parameter Category | Specifications |
|---|---|
| Wafer Diameter | 2인치, 3인치, 4인치, 5인치, 6인치, 8인치 (맞춤 가능) |
| Crystal Growth Method | Czochralski (CZ), Float Zone (FZ) |
| Doping Type | N형 (인, 비소, 안티몬 도핑); P형 (붕소 도핑) |
| Resistivity | 0.001 Ω·cm부터 >10,000 Ω·cm (고저항) |
| Crystal Orientation | <100>, <110>, <111> |
| Total Thickness Variation (TTV) | ≤ 0.5 μm |
| Warp | ≤ 10 μm |
| Bow | ≤ 5 μm |
| Surface Roughness (Ra) | ≤ 0.5 nm (원자 수준 평탄도) |
| Quality Grade | 프라임 등급 (장치 등급 생산 웨이퍼); 테스트 등급; 더미 등급 (모니터 웨이퍼) |
| Inspection | 100% 전수 검사: 입자 검출, 저항률 매핑, 결정 결함 스캔 |
| Standard Compliance | SEMI 국제 표준 준수 |
| Packaging | 클래스 100 클린룸 진공 포장; 박스당 25개 또는 맞춤 수량 |
| Documentation | 출하당 전수 검사 보고서 및 재료 증명서 포함 |
| Applications | IC 제조, MEMS 제작, 전력 반도체, 태양광 셀, 연구개발 실험실 |
자주 묻는 질문
네.
네, 귀하의 요구에 따라 제품에 라벨을 붙일 수 있습니다. 내부 및 외부 라벨 모두 가능합니다.
네, 저희는 장쑤에 공장이 있습니다. 저희 회사와 공장을 방문하시는 것을 환영합니다.
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